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寶石測量

發布時間:2020-01-20 08:22:06

寶石工業由於一係列原因產生測量需求,其中主要測量是弱信號測量和快速測量係統,以滿足大批量寶石的測量需求。Avantes公司提供基本的測量工具以及先進的測量係統以滿足各種寶石的測量要求,這些測量可以用相對簡單的使用積分球或反射探頭的係統完成,也可以是複雜的需要激光器和熱電製冷光譜儀的光致發光測量係統。

基本寶石測量

寶石學家通常有兩個基本問題,“我需要測量的寶石的特征是什麼?”和“這些特征是天然的嗎?”。這是因為寶石業已經開發了多種方法來提高寶石的性能,如改善寶石的顏色和隱藏寶石的瑕疵,所采用的方法包括熱處理、輻照、樹脂充填、激光打孔,甚至簡單表麵處理,如利用石油產品進行表麵處理。

一台典型的基本測量係統包括一台AvaSpec-ULS2048-USB2光譜儀,一個WS-2-GEM寶石測量專用白參考瓦,一根FCR-7UV200-2-BX反射探頭光纖和一台AvaLight-HAL鹵素燈光源或 AvaSphere-50-LS-HAL帶內置鹵素燈光源的反射型積分球。即使有許多可能的應用,但對紅寶石中鉻的主要峰(692.8nm694.2nm)和鑽石的lalb型的測定會經常被測量。Ia型鑽石或無色鑽石在415nm478nm有很強的氮吸收峰,而lb型鑽石或黃色鑽石中的氮原子有很寬的吸收光譜分布,就會消除這些峰。其他有用的峰分布在592nm741nm,它們標誌著鑽石經過寶石人工著色。

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